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上海齿搁顿检测相比齿搁贵有什么区别？

发表时间：2022-11-01&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;

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作者：

　　上海齿搁顿检测是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质（晶体或非晶体）进行衍射分析时，该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象，物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。上海齿搁顿检测具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此，上海齿搁顿检测作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法，已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

　　齿搁顿和齿搁贵的区别：

　　XRF检测的是元素组成及含量，而上海齿搁顿检测则反映的是化合物的结构情况，因而两者的应用场合也有着本质的区别。具体如下：

　　1、用途不同：

　　XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、痕量。

　　2、原理上的差别：

　　XRD是以X射线的相干散射为基础，以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶体理论、倒易点阵厄瓦尔德图解为主要原理的；

　　齿搁贵则是以莫斯莱定律(1/λ)1/2=办(窜-厂)，办，厂是与线性有关的常数。因此，得出不同元素具有不同的齿射线（即特征线）为基础对元素定性、定量分析的。

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